Skapa en profil
Medförfattare
Joseph M. KahnProfessor of Electrical Engineering, E. L. Ginzton Laboratory, Stanford UniversityVerifierad e-postadress på ee.stanford.edu
Shien-Kuei LiawProfessor, National Taiwan University of Science and TechnologyVerifierad e-postadress på mail.ntust.edu.tw
Shi Chengwest virginia universityVerifierad e-postadress på ieee.org
Sercan O. ArikGoogleVerifierad e-postadress på google.com
William ShiehProfessor, Westlake University, China / Honorary Professor, The University of Melbourne, AustraliaVerifierad e-postadress på westlake.edu.cn
Lian-Kuan ChenDepartment of Information Engineering, The Chinese University of Hong KongVerifierad e-postadress på ie.cuhk.edu.hk
Sanghoek KimKyung Hee universityVerifierad e-postadress på khu.ac.kr
Alan Pak Tao LauProfessor of Electrical and Electronic Engineering at The Hong Kong Polytechnic UniversityVerifierad e-postadress på polyu.edu.hk
Calvin Chun-Kit ChanProfessor, Associate Dean (Education), The Chinese University of Hong KongVerifierad e-postadress på ie.cuhk.edu.hk
Thomas Shun Rong SHENPNRL, Stanford UniversityVerifierad e-postadress på stanford.edu
Mahdieh B ShemiraniVerifierad e-postadress på alumni.stanford.edu
John D RalstonCEO and founder, PROTXXVerifierad e-postadress på protxx.com
Yonggang WenFIEEE, FSAEng, Professor & President's Chair, Nanyang Technological University SingaporeVerifierad e-postadress på ntu.edu.sg
Yang-Han LeeDepartment of Electrical Engineering Tamkang UniversityVerifierad e-postadress på ee.tku.edu.tw
Kainam Thomas WONGVerifierad e-postadress på ieee.org
Hsin-Chia Lu 盧信嘉Professor, Graduate Institute of Electronics Engineering, National Taiwan UnivesrityVerifierad e-postadress på cc.ee.ntu.edu.tw
Fuad E. DoanyIBM, T. J. Watson Research Center, Yorktown Heights, NYVerifierad e-postadress på us.ibm.com
Thomas SchransVerifierad e-postadress på ieee.org
Tilemachos DoukoglouOTE S.A. R&D LabsVerifierad e-postadress på oteresearch.gr
Chung-Sheng LiTaiwan Semiconductor Manufacturing Company LimitedVerifierad e-postadress på ieee.org